四探針方阻測(cè)試儀在合金類箔膜及電極涂料的應(yīng)用
發(fā)布時(shí)間： 2023-08-18 21:16:39 點(diǎn)擊： 258
四探針方阻測(cè)試儀在合金類箔膜及電極涂料的應(yīng)用
四探針方阻測(cè)試儀可以用于測(cè)量合金類箔膜和電極涂料的電阻，具體應(yīng)用如下：
用于測(cè)量半導(dǎo)體材料（主要是硅單晶、鍺單晶、硅片）電阻率，以及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠方塊電阻。
用于測(cè)量導(dǎo)體材料的方塊電阻和電阻率，如銀、銅、鋁等。
可用于電極涂層的電阻率測(cè)試，如太陽能電池中的涂層電阻。
總之，四探針方阻測(cè)試儀在合金類箔膜及電極涂料的應(yīng)用非常廣泛，可以滿足不同的測(cè)試需求
四探針方法是利用四探針測(cè)試儀測(cè)量樣品電阻的方法。該方法具有較高的精度和穩(wěn)定性。具體步驟如下：
準(zhǔn)備工作：檢查儀器外觀是否完好，準(zhǔn)備好測(cè)試樣品和探頭。
接線方法：將四個(gè)探頭分別連接到電流源和電壓表上。兩個(gè)探頭作為電流探頭，另外兩個(gè)探頭則作為電壓探頭。
測(cè)量參數(shù)設(shè)置：根據(jù)實(shí)際情況，調(diào)整相應(yīng)的測(cè)量參數(shù)，如電流大小、采樣時(shí)間、溫度等。
測(cè)量步驟：
將待測(cè)樣品放置于測(cè)試臺(tái)上，并將四個(gè)探頭分別接觸樣品表面。
啟動(dòng)電流源，施加恒定電流。
通過電壓表測(cè)量?jī)山M電極之間的電壓差，并記錄下來。
對(duì)于不同位置和方向，重復(fù)以上步驟多次，以獲得更加準(zhǔn)確的測(cè)量數(shù)據(jù)。
數(shù)據(jù)處理和結(jié)果分析：在完成測(cè)量后，可以對(duì)所得數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，如除異常值、平均化等，然后計(jì)算出樣品的電阻率。
