GB/T 39978-2021納米技術(shù) 碳納米管粉體電阻率 四探針法
發(fā)布時間： 2023-08-23 11:28:24 點擊： 326
GB/T 39978-2021納米技術(shù) 碳納米管粉體電阻率 四探針法
GB/T 39978-2021納米技術(shù) 碳納米管粉體電阻率 四探針法規(guī)定了采用四探針法測試試樣厚度大于4倍探針間距的碳納米管粉體電阻率的測試方法。該標(biāo)準(zhǔn)適用于碳納米管粉體，其他碳材料的粉體電阻率測試可參考執(zhí)行。
四探針法是測量碳納米管粉體電阻率的一種方法。它使用四個探針，通過接觸碳納米管粉體試樣，測量其電阻率。
具體測試過程包括以下步驟：
準(zhǔn)備試樣：將碳納米管粉體均勻地涂在兩個導(dǎo)電平板之間，形成薄薄的一層試樣。
安裝探針：將四根探針按照一定距離排成一條直線，將其中的一個探針接電源正極，另一個探針接電源負極，另外兩個探針則用于測量電流和電壓。
施加電壓：向碳納米管粉體試樣施加一定的電壓。
測量電流：測量流過碳納米管粉體試樣的電流值。
計算電阻率：根據(jù)歐姆定律，計算出試樣的電阻率。
需要注意的是，測試時應(yīng)選擇合適的探針間距和電壓，并嚴(yán)格遵循標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的操作步驟。此外，不同的碳納米管粉體可能需要采用不同的測試方法，因此在實際操作時應(yīng)根據(jù)具體情況進行選擇。
